显示屏显示缺陷检测方法及装置
实质审查的生效
摘要

本发明涉及显示技术领域,公开了一种显示屏显示缺陷检测方法及装置。其中,显示屏显示缺陷检测方法,包括:获取采样图像,采样图像为拍摄显示有样本图像的显示屏得到的图像;获取采样图像中的各个像素点;对各个像素点分别进行亮度除杂处理,得到目标图像;对目标图像进行缺陷检测以获取目标图像中的缺陷位置;其中,亮度除杂处理包括:计算像素点处的环境光亮度值,环境光亮度值为显示屏以外的环境光在像素点处的亮度值,根据环境光亮度值对像素点的亮度进行亮度补偿。与现有技术相比,本发明实施方式所提供的显示屏显示缺陷检测方法及装置具有提升显示屏缺陷检测的准确度的优点。

基本信息
专利标题 :
显示屏显示缺陷检测方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114331975A
申请号 :
CN202111521951.X
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
苏灵艳周军
申请人 :
合肥维信诺科技有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市新站区魏武路与新蚌埠路交口西南角
代理机构 :
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
成丽杰
优先权 :
CN202111521951.X
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211213
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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