显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质。采集显示屏的显示屏图像，并提取所述显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息；根据所述显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值；根据所述显示颗粒的灰度值和所述显示颗粒的实际位置信息，将所述显示颗粒拼接成灰度拼接图像；根据所述灰度拼接图像判断所述显示屏是否存在缺陷。根据显示屏图像上的显示颗粒信息，检测显示屏是否存在缺陷，避免了人工检测显示屏缺陷导致的检测误差，提高了检测效率和检测精度。
基本信息
专利标题 ：
显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114354622A
申请号 ：
CN202111650224.3
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
邢志伟时广军周钟海姚毅杨艺
申请人 ：
苏州凌云视界智能设备有限责任公司;凌云光技术股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区长阳街259号钟园工业坊A1-1F,A0-1F东侧一半
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
王瑞云
优先权 ：
CN202111650224.3
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G06T3/40 G06T7/00 G06T7/73
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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