IF电路测试方法与装置及随机信号产生方法与装置
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种IF电路测试方法与装置及随机信号产生方法与装置。随机信号产生方法包括如下步骤:根据指定振动谱控制振动台随机振动,采集采样电阻两端电压;利用第i×N+1到第i×N+N个采样点计算得到第i个信号频谱;比较Q个信号频谱,得到该振动条件下该加速度计输出电流个体分布谱线,选择若干同型加速度计重复上述操作,综合个体特征获得该型号加速度计典型分布谱线;利用随机函数在频率范围内选择Pj个频率点;生成Pj个正弦信号,每个正弦信号的幅度不超过典型分布谱线对应频点限幅;将Pj个正弦信号叠加,得到持续时间为Tj的第j个子随机信号;将J个子随机信号在时域上连续拼接得到随机数字信号,输出所述随机数字信号,转换为电流信号。

基本信息
专利标题 :
IF电路测试方法与装置及随机信号产生方法与装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325308A
申请号 :
CN202111524652.1
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
熊凯洲曹振兴李忠昊
申请人 :
湖南航天机电设备与特种材料研究所
申请人地址 :
湖南省长沙市枫林三路217号
代理机构 :
长沙正奇专利事务所有限责任公司
代理人 :
郭立中
优先权 :
CN202111524652.1
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01C21/16  G01M7/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211214
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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