本申请涉及一种供电模块及供电方法，涉及芯片测试技术领域。其中，一种供电模块，包括：输出控制逻辑单元、数模转换单元和线性功率放大单元；所述输出控制逻辑单元用于获取运行时长，根据所述运行时长和预设的映射关系，获取所述运行时长对应的数字量电压值；所述映射关系为运行时长与所述数字量电压值的映射关系；所述数模转换单元用于将所述数字量电压值转换为模拟量电压值；所述线性功率放大单元将所述模拟量电压值放大后输出。该供电模块，输出控制逻辑单元按照运行时长输出数字量电压值，数模转换单元将数字量电压值转换为模拟量电压值，并由线性功率放大单元放大后输出，能够提供高斜率低过冲的输出电压，解决了芯片的安全测试的技术问题。