一种时变非线性gamma参数校正方法及三维测量系统
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种灵活的投影仪非线性校正方法及三维测量系统,涉及到光学三维测量领域。首先使用仿真程序生成数据集,然后用生成的数据集训练一个支持向量回归机模型,支持向量回归机根据折叠相位的概率密度函数估计系统的gamma值,然后运行一个迭代算法对非线性误差进行校正,得到精确的折叠相位,最后采用时间相位展开算法和三角测量原理生成点云数据。提出的非线性校正方法无需增加投影图片的数量,也不需要复杂的光度学标定过程,可以在条纹分析阶段就校正系统的非线性误差。本发明提出的方法可以解决时变的非线性问题,实现高速、高精度的三维测量。

基本信息
专利标题 :
一种时变非线性gamma参数校正方法及三维测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114383536A
申请号 :
CN202111536993.0
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
冯国英蔡思傲崔吉
申请人 :
四川大学
申请人地址 :
四川省成都市武侯区一环路南一段24号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111536993.0
主分类号 :
G01B11/25
IPC分类号 :
G01B11/25  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
G01B11/25
通过在物体上投影一个图形,例如莫尔条纹
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/25
申请日 : 20211213
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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