基于调制型双探测器的复振幅测量装置和方法
实质审查的生效
摘要
一种基于调制型双探测器的复振幅测量装置和方法,装置包括激光器模块,准直扩束器模块,分束器,两个光强探测器,波前调制器模块和控制及数据处理模块。待测光束被分为两束,其中一束直接由探测器记录,另一束经过调制器调制后由探测器记录。两幅衍射光斑之间通过相位迭代恢复算法可以恢复出待测光束的复振幅分布。该方法可以用于单状态或者多状态的波前测量,可以拓展至超快现象的测量领域。由于引入调制器的调制,提升了恢复算法的收敛性能,可以有效降低噪声水平。本发明可以测量单个或多个模态情况下的波前复振幅分布。
基本信息
专利标题 :
基于调制型双探测器的复振幅测量装置和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114279558A
申请号 :
CN202111552194.2
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
朱健强徐英明潘兴臣陶华刘诚
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
上海市嘉定区清河路390号
代理机构 :
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张宁展
优先权 :
CN202111552194.2
主分类号 :
G01J1/42
IPC分类号 :
G01J1/42 G01J11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/42
申请日 : 20211217
申请日 : 20211217
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载