智能卡测试设备以及方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种智能卡测试设备，包括用于安置待测卡的待测仓、用于搁置待测卡的测试台、用于测试待测卡的读卡器读头以及用于将待测仓中的待测卡送至测试台上并与读卡器读头对接的驱动机构，待测卡设于测试台的一侧。还提供一种智能卡测试方法，包括S1‑S4四个步骤。本发明通过待测仓、测试台、读卡器读头以及驱动机构的配合，可以迅速地完成智能卡的检测，实现了多张待测卡的测试，极大地提高了测试效率和便携性，另外全自动化的测试设备可以实现24小时不间断执行测试。
基本信息
专利标题 ：
智能卡测试设备以及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414912A
申请号 ：
CN202111565685.0
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2021-12-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘飞苏昆胡瑞璟董逢华
申请人 ：
武汉天喻信息产业股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区华工大学科技园天喻信息
代理机构 ：
北京汇泽知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐俊伟
优先权 ：
CN202111565685.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211220
申请日 : 20211220
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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