一种X射线衍射测试的样品变温测试装置及其使用方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种X射线衍射测试的样品变温测试装置，包括X射线衍射测试台体组件、X射线发生器、测角及探测系统、温度控制系统、供气或真空系统和循环冷却系统，X射线衍射测试台体内部为密封腔室，为被测样品提供一个变温气密环境。本发明属于X射线衍射测试技术领域，具体是一种X射线衍射测试的样品变温测试装置及其使用方法，有效解决了现有市场上的X射线衍射测试装置不能为样品提供良好的变温测试条件的问题，是一种可实现在不同气氛环境下测试的X射线衍射测试的样品变温测试装置。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线衍射测试的样品变温测试装置及其使用方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114428090A
申请号 ：
CN202111567763.0
公开（公告）日 ：
2022-05-03
申请日 ：
2021-12-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
汪金文王锦汪明炉
申请人 ：
锦文测控科技（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市滨河路689号新创工业大厦北百创汇308
代理机构 ：
北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
马红蕾
优先权 ：
CN202111567763.0
主分类号 ：
G01N23/20
IPC分类号 ：
G01N23/20 G01N23/20033
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/20
申请日 : 20211221
申请日 : 20211221
2022-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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