一种毫欧级精密阻值采样器件
公开
摘要
本发明公开了一种毫欧级精密阻值采样器件，包括底座、安装板、主体、快速固定结构、辅助限位结构以及保护结构，所述底座的上端表面处开设有四个贯穿槽，所述安装板设置有两个，两个所述安装板均呈L型，两个所述安装板均固定安装于底座的底部处，所述主体位于底座的上端表面处所述快速固定结构安装于底座的底部处，且所述快速固定结构穿过贯穿槽，所述快速固定结构与主体的顶部处抵接，所述辅助限位结构安装于快速固定结构处。本发明便于进行快速的安装固定，提高了安装工作效率，且固定稳定性较高，同时，对电阻的保护效果较好，外界因素不易损坏到电阻，同时，也不易干扰到电阻的采样工作。
基本信息
专利标题 ：
一种毫欧级精密阻值采样器件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114527325A
申请号 ：
CN202111568212.6
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2021-12-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
涂振坤苗义敬王泽斌
申请人 ：
普森美微电子技术（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区唯亭双马街126号2幢2楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202111568212.6
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02 G01R1/04 H01C1/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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