一种X光射线光源在X光机检测仪中的衰减检测方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种X光射线光源在X光机检测仪中的衰减检测方法，通过计算给定的圆锥体半径，及时发现X射线源已经衰弱至影响图形算法的程度，并及时告知操作人员适当的修改图形算法的参数或者及时更换新的X射线源，防止不恰当的图形算法参数导致判断结果不准确从而将不良品流入到后续生产中。
基本信息
专利标题 ：
一种X光射线光源在X光机检测仪中的衰减检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114354659A
申请号 ：
CN202111570998.5
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-12-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
林毅宁
申请人 ：
昆山善思光电科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山开发区琵琶路28号5号房
代理机构 ：
徐州迈程知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡建豪
优先权 ：
CN202111570998.5
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20211221
申请日 : 20211221
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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