一种X电容衰减失效检测电路
授权
摘要
本实用新型公开了一种X电容衰减失效检测电路，应用于PFC输入电路中，所述输入电路包括三路X电容，所述三路X电容的一端分别与三相电源的三相输出连接，所述三路X电容的另一端共接作为电容中点，所述X电容衰减失效检测电路包括用于采样得到三路线电压的三路线电压采样电路、用于采样得到三路相电压的三路相电压采样电路、用于在三路线电压不存在偏压时根据所述三路相电压确定X电容是否衰减的处理电路，本实用新型可以保证X电容容量处于一个优良的容量状态，本实用新型实施简单、效果优异，极大地避免了具备此电路的产品因X电容衰减导致的X电容烧坏从而产品失效，极大地减小了产品的失效率。
基本信息
专利标题 ：
一种X电容衰减失效检测电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021716850.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-17
授权号 ：
CN214011455U
授权日 ：
2021-08-20
发明人 ：
卿腾陈华源郭明周代文龙雨菲
申请人 ：
深圳市盛弘电气股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道松白路1002号百旺信高科技工业园2区6栋
代理机构 ：
深圳市顺天达专利商标代理有限公司
代理人 ：
郭伟刚
优先权 ：
CN202021716850.9
主分类号 ：
G01R31/388
IPC分类号 ：
G01R31/388 B60L53/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/388
••••基于电压测量
法律状态
2021-08-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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