电容检测电路、电容检测系统和电子设备
授权
摘要
本申请提供了一种电容检测电路、电容检测系统和电子设备，该电容检测电路连接至待测电容器，包括：CCO，用于根据待测电容器的电容值产生第一时钟信号；DLL电路包括数字鉴相器和数字控制的延迟电路，数字鉴相器的第一输入端连接到CCO的输出端，数字鉴相器的第二输入端连接数字控制的延迟电路的输出端；数字鉴相器用于根据第一时钟信号以及数字控制的延迟电路输出的第二时钟信号，输出第一数字信号；数字控制的延迟电路用于根据第一数字信号控制第二时钟信号的延迟时间；其中，DLL电路锁定时，所述第二时钟信号和第一时钟信号之间的延迟时间为N个第一时钟信号的周期，N为正整数，数字鉴相器输出的所述第一数字信号用于确定所述待测电容器的电容值。
基本信息
专利标题 ：
电容检测电路、电容检测系统和电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020564874.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-15
授权号 ：
CN214150866U
授权日 ：
2021-09-07
发明人 ：
王洁
申请人 ：
深圳曦华科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区桃源街道塘岭路1号金骐智谷大厦2103室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020564874.0
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26 G06F3/044
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2021-09-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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