一种电容检测电路、电容检测方法及电子设备
授权
摘要

本申请公开一种电容检测电路、电容检测方法及电子设备。该电容检测电路包括镜像电流源、积分电容、补偿单元、开关电路和信号处理单元;镜像电流源包括第一电流源和第二电流源;补偿单元用于补偿被测电容的固有电容,以减小被测电容的固有电容引起的流经积分电容的电流大小;开关电路用于选择性的导通,以使得在初始化阶段对积分电容进行电荷初始化,以及在充放电阶段,对被测电容进行放电,在对被测电容进行放电之后,第一电流源通过开关电路对被测电容进行充电,第二电流源通过开关电路对积分电容进行充电;信号处理单元与积分电容连接,用于在满足预设条件时确定被测电容的电容值。本申请公开的电容检测电路具有面积小,系统复杂度低的优势。

基本信息
专利标题 :
一种电容检测电路、电容检测方法及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111650441A
申请号 :
CN202010529924.6
公开(公告)日 :
2020-09-11
申请日 :
2020-06-11
授权号 :
CN111650441B
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
程涛张忠
申请人 :
上海艾为电子技术股份有限公司
申请人地址 :
上海市闵行区秀文路908弄2号1201室
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
王娇娇
优先权 :
CN202010529924.6
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2022-05-17 :
授权
2020-10-13 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/26
申请日 : 20200611
2020-09-11 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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