一种电容检测电路及电容检测方法

授权

摘要

本申请实施例公开了一种电容检测电路及电容检测方法。该电容检测电路包括第一镜像电流源、第二镜像电流源、第三镜像电流源、积分电容、开关电路和信号处理电路。在对被测电容进行电容值检测过程中，通过第一镜像电流源向积分电容注入电荷，或者通过第二镜像电流源和第三镜像电流源向积分电容注入电荷，通过控制第一镜像电流源、第二镜像电流源和第三镜像电流源中两个电流源的电流比值，减少注入积分电容的电荷，在维持积分电容上同样大小电压波动的前提下，积分电容的电容值可以大大的减小，有利于减小电容检测电路的面积，还能够有效抑制低频噪声。

基本信息

专利标题：

一种电容检测电路及电容检测方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111474412A

申请号：

CN202010332548.1

公开（公告）日：

2020-07-31

申请日：

2020-04-24

授权号：

CN111474412B

授权日：

2022-06-14

发明人：

程涛张忠

申请人：

上海艾为电子技术股份有限公司

申请人地址：

上海市闵行区秀文路908弄2号1201室

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司

代理人：

王娇娇

优先权：

CN202010332548.1

主分类号：

G01R27/26

IPC分类号：

G01R27/26 G01D5/24