电容测量电路及电容测量方法
实质审查的生效
摘要

本申请实施例涉及微电子领域,提供一种电容测量电路及电容测量方法,电容测量电路包括:待测电容,待测电容的两端分别与激励电路的输出端以及调节电路的输入端连接;第一时序开关电路两端分别与第一放大电路的输入端以及调节电路的输出端连接,第二时序开关电路两端分别与第二放大电路的输入端以及调节电路的输出端连接,第一时序开关电路的开启与第二时序开关电路交替开启;电容检测电路,电容检测电路包括差分放大器以及比较器,差分放大器的同相输入端与第一放大电路的输出端连接,差分放大器的反相输入端与第二放大电路的输出端连接,比较器的输出端分别与第一放大电路的输入端以及第二放大电路的输入端连接,有利于提高电容测量的精度。

基本信息
专利标题 :
电容测量电路及电容测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487615A
申请号 :
CN202210352792.3
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-04-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张耀国夏波聂波张毓麟
申请人 :
基合半导体(宁波)有限公司
申请人地址 :
浙江省宁波市余姚市经济开发区城东新区冶山路
代理机构 :
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
成丽杰
优先权 :
CN202210352792.3
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/26
申请日 : 20220406
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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