差动电容测量电路及多量程电容测量仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种差动电容测量电路及多量程电容测量仪属于电工电子测量方法及装置，本发明主要采用了若干个CMOS开关和被测电容，参考电容一起组成了一个充放电桥路，用一个电荷测量电路测量两个电容的放电电流的幅值之差。该电路特点是所需元件少，成本低廉，测量精度高，稳定性好，对杂散电容影响的抑制能力强，该仪器的多量程测量靠改变频率和电阻值十分容易实现，可以提供的测量频率范围从约500Hz到2MHz，可以测量差动电容及绝对电容。
基本信息
专利标题 ：
差动电容测量电路及多量程电容测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1031428A
申请号 ：
CN88106571.4
公开（公告）日 ：
1989-03-01
申请日 ：
1988-10-06
授权号 ：
CN1009031B
授权日 ：
1990-08-01
发明人 ：
黄松明
申请人 ：
黄松明
申请人地址 ：
北京市清华大学自动化系检测教研组
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
廖元秋
优先权 ：
CN88106571.4
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
1993-08-04 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-02-27 ：
授权
1990-08-01 ：
审定
1989-03-01 ：
实质审查请求
1989-03-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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