电容检测电路、电容检测系统和电子设备
授权
摘要

本申请提供一种电容检测电路、电容检测系统和电子设备,该电容检测电路连接至待测电容器,包括:电容控制延迟电路,用于根据参考时钟信号和待测电容器的电容值产生第一时钟信号,第一时钟信号和参考时钟信号具有第一延迟时间;DLL电路包括数字鉴相器和数字控制的延迟电路,数字鉴相器根据第一时钟信号以及数字控制的延迟电路输出的第二时钟信号,输出第一数字信号;数字控制的延迟电路用于根据参考时钟信号和第一数字信号控制第二时钟信号的延迟时间,第二时钟信号和参考时钟信号具有第二延迟时间;所述DLL电路锁定时,第一延迟时间和第二延迟时间的差值为N个参考时钟信号的周期,数字鉴相器输出的第一数字信号用于确定所述待测电容器的电容值。

基本信息
专利标题 :
电容检测电路、电容检测系统和电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020573286.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-15
授权号 :
CN213398730U
授权日 :
2021-06-08
发明人 :
王洁
申请人 :
深圳曦华科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区桃源街道塘岭路1号金骐智谷大厦2103室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020573286.3
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26  G06F3/044  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2021-06-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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