一种超短波取样天线阵列及其建立方法
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摘要

本发明提供一种用于干扰对消的超短波取样天线建立方法,以解决通信电台在复杂电磁环境抗干扰中信号取样问题,涉及干扰对消和多天线技术领域。干扰对消是目的,关键在信号取样,取样天线阵列性能与干扰对消需求紧密相关。首先,依据干扰对消需求,设计取样天线阵列。工作频段由通信系统决定,单元天线间距是根据互耦影响和差异化原则设计,单元天线规模与干扰源数量相关。然后,依据干扰对消需求,设计具备宽带高增益的单元天线。单元天线的极化特性、驻波比、增益以主天线为参考,并根据对消需求进行改进。最后,进行参数优化和结构设计。加载网络和匹配网络的元件参数以驻波比和增益为优化目标,结构设计需考虑通信系统天线的环境。

基本信息
专利标题 :
一种超短波取样天线阵列及其建立方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113964481A
申请号 :
CN202111577528.1
公开(公告)日 :
2022-01-21
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
CN113964481B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
郭宇王衡峰葛松虎孟进张嘉毫李亚星邢金岭吴灏罗康
申请人 :
中国人民解放军海军工程大学
申请人地址 :
湖北省武汉市硚口区解放大道717号
代理机构 :
武汉华之喻知识产权代理有限公司
代理人 :
廖盈春
优先权 :
CN202111577528.1
主分类号 :
H01Q1/12
IPC分类号 :
H01Q1/12  H01Q1/36  H01Q1/42  H01Q1/50  H01Q1/52  H01Q9/16  H01Q21/00  H01Q21/20  H01Q23/00  
法律状态
2022-04-08 :
授权
2022-02-15 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01Q 1/12
申请日 : 20211222
2022-01-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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