IC推力测试仪
公开
摘要
本发明属于IC元件测试技术领域，具体为IC推力测试仪，包括：机体、动力行走机构和刀头测试机构，所述机体包括框架、安装于所述框架的显示操作面板、设置于所述显示操作面板侧的推力计和安装于所述框架上的产品载台；所述动力行走机构安装于框架上，所述动力行走机构包括安装于所述框架内的伺服电机。本发明中，通过在测试刀头上增加了X向、Z向导向机构，利用X向导向机构，可以对刀头直线行走进行导向，配合Z向导向机构和微分头的使用，可以精确调节刀头高度，能够对应不同厚度的玻璃面板，导向机构的使用，提高了检测时刀头运动的稳定性，确保了IC完整脱离，保证了测量数据的准确性，减少了IC破损造成的浪费。
基本信息
专利标题 ：
IC推力测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114323383A
申请号 ：
CN202111579112.3
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
谢夫战
申请人 ：
南京得帮机电有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区汤山工业园纬三路6号
代理机构 ：
南京勤行知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
罗柱平
优先权 ：
CN202111579112.3
主分类号 ：
G01L5/00
IPC分类号 ：
G01L5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01L
测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力
G01L5/00
适用于特定目的的力、功、机械功率或转矩的测量装置或方法
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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