测试处理方法、装置、电子设备和存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明公开了测试处理方法、装置、电子设备和存储介质,涉及数据验证技术领域。该方法的一具体实施方式包括:基于待测试案例的案例信息确定对应测试数据表,以查询测试数据表的测试数据量;获取待测试案例对应业务系统中存储的实际数据量,以判断测试数据量是否小于实际数据量;若是,则对测试数据表执行数据测试流程;若否,则查询测试数据表的索引字段,以触发索引字段对应的预埋处理事件,得出预埋处理后的测试数据表,对预埋处理后的测试数据表执行数据测试流程。该实施方式能够解决测试数据从业务系统中迁移,不仅操作复杂,还需要花费较长的时间,导致性能测试效率较低的问题。

基本信息
专利标题 :
测试处理方法、装置、电子设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114281663A
申请号 :
CN202111580449.6
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨东平马婕贾永洁顾旺军罗金梅李娜余永彬王建军付磊
申请人 :
建信金融科技有限责任公司
申请人地址 :
上海市中国(上海)自由贸易试验区银城路99号12层、15层
代理机构 :
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 :
张春晓
优先权 :
CN202111580449.6
主分类号 :
G06F11/34
IPC分类号 :
G06F11/34  G06F11/36  G06F16/22  G06F16/245  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/30
监控
G06F11/34
计算机功效的记录或统计测定,例如,故障停机时间的、输入/输出操作的
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/34
申请日 : 20211222
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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