一种屏蔽线缆电磁屏蔽衰减测量方法
实质审查的生效
摘要

一种屏蔽线缆电磁屏蔽衰减测量方法,用于测量被测屏蔽线缆的电磁屏蔽衰减;其在非金属支架上将电流校准装置串联于所述被测屏蔽线缆和信号源电缆之间,信号源电缆另一端与信号源连接,被测屏蔽线缆另一端连接负载;所述测量方法包括在所述电流校准装置上的参考测量和在所述被测屏蔽电缆上的衰减测量;所述衰减测量包括靠近电流校准装置位置的近端测量和与其间隔距离M的位置设置电流探头进行的远端测量,其中的最大值为衰减测量值;所述屏蔽衰减的测量值等于所述参考测量值与所述衰减测量值之比取对数,或者等于参考测量的对数单位测量值与衰减测量的对数单位测量值之差。本发明具有适应范围宽和测量精度高的有益技术效果。

基本信息
专利标题 :
一种屏蔽线缆电磁屏蔽衰减测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264851A
申请号 :
CN202111582482.2
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李立嘉沈涛崔强林荣刚石磊夏志立黄文超李亚超
申请人 :
北京大泽科技有限公司
申请人地址 :
北京市朝阳区将台路2号
代理机构 :
北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李永海
优先权 :
CN202111582482.2
主分类号 :
G01R1/06
IPC分类号 :
G01R1/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/06
申请日 : 20211222
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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