相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法
实质审查的生效
摘要
本发明属于本发明属于低压电气设备寿命预测技术领域，尤其涉及一种相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法。本发明系统是在PIC的一端连接显示单元、控制面板、供电电源、复位电路、时钟电路、晶振电路及数据存储单元；在PIC的另一端通过驱动模块与低压电气设备相连接；在PIC的另一端还通过信号处理电路、电流传感器和电压传感器与低压电气设备相连接；在PIC的另一端还通过模数转换单元、行程传感器与低压电气设备相连接；在PIC的另一端还通过通讯电路连接工业计算机。本发明提出了一种相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法，能够提高低压电气设备安全性和可靠性，为智能化电器技术发展奠定基础的发明目的。
基本信息
专利标题 ：
相对电磨损法低压电气设备寿命预测系统与方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114384360A
申请号 ：
CN202111583645.9
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-12-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郎福成张红奎张军如李燕李桐喆杨璐羽贾玥张年维金元元孙文静邰晓雪田博文
申请人 ：
国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司;中煤科工集团沈阳研究院有限公司
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市和平区四平街39-7号
代理机构 ：
辽宁沈阳国兴知识产权代理有限公司
代理人 ：
何学军
优先权 ：
CN202111583645.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R19/25 G06F30/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211222
申请日 : 20211222
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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