力学参数获取方法及装置、电子设备及计算机存储介质
实质审查的生效
摘要
本公开提供了一种力学参数获取方法，所述方法包括：扫描矿物样品，得到矿物样品的电镜图像以及矿物成分图像；根据所述矿物成分图像，确定矿物样品中的矿物成分；根据所述电镜图像，确定胶结因子；其中，所述胶结因子指示矿物样品中矿物之间的接触关系；根据所述矿物样品的成分以及所述胶结因子，确定所述矿物样品的力学参数；通过上述力学参数获取方法，可以提升获取速率以及准确性。
基本信息
专利标题 ：
力学参数获取方法及装置、电子设备及计算机存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460119A
申请号 ：
CN202111584889.9
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2021-12-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴国强董虎马克李想符颖李龙生谢桂生杨武
申请人 ：
数岩科技股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区永丰产业基地丰秀中路3号院3号楼
代理机构 ：
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 ：
任晓
优先权 ：
CN202111584889.9
主分类号 ：
G01N23/2251
IPC分类号 ：
G01N23/2251
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束，例如扫描电子显微镜
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2251
申请日 : 20211222
申请日 : 20211222
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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