本发明涉及一种基于HAPS平台的高速串口SRIO的验证测试方法，包括如下步骤：高速串口SRIO的设计原型HAPS平台配置；高速串口SRIO的调试交互；高速串口SRIO应用场景可修改与硬件可配置验证。本发明所述验证测试方法，采用HAPS平台更灵活的迭代SRIO接口功能的全芯片设计验证方式，降低了芯片样片的成本，缩短了芯片设计验证的时间，尽早开展软件的开发工作；根据基本功能和用户应用场景设计、编辑、修改和检验测试数据的有效性，一方面可以检验基本功能时的场景和边界情况，另一方面具备用户场景拓展的功能；调试交互时，利用串口工具根据提示输入测试内容，并输出测试SRIO运行时的功能信息，功能流程和寄存器配置信息，测试对比和测试结果等等。