一种串口芯片测试系统的验证电路
授权
摘要
一种串口芯片测试系统的验证电路，包括测试电路，所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能，通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态；所述测试电路包括第一滤波电路及第二滤波电路；所述测试芯片连接所述第一滤波电路，所述标准芯片连接所述第二滤波电路，通过所述第一滤波电路及所述第二滤波电路分别对所述测试芯片及所述标准芯片进行滤波提高测试参数的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种串口芯片测试系统的验证电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202120920643.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-04-29
授权号 ：
CN216351051U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
张大伟屈粮富宋晓荣马慧娟
申请人 ：
天津普智芯网络测控技术有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区滨海高新区华苑产业区海泰西路18号南2楼3033
代理机构 ：
北京沁优知识产权代理有限公司
代理人 ：
甄丹凤
优先权 ：
CN202120920643.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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