一种通用电路验证测试系统以及方法
实质审查的生效
摘要

本申请提供一种通用电路验证测试系统以及方法,其中,本申请提供的系统包括测试模块、主控芯片、信号产生单元以及继电器单元,所述测试模块被配置为向主控芯片发送指令以及对测试数据进行分析处理;所述主控芯片被配置为将测试模块发出的指令转换为电信号传递给信号产生单元以及继电器单元,并读取所述测试数据;所述信号产生单元被配置为产生待测器件所需的激励信号;所述继电器单元被配置为发送待测器件所需的激励信号。本申请提供的系统能够满足不同种类的中小规模电路元器件所需的输入激励以及输入输出接口数量,能够同时对不同种类的器件进行功能验证、测试和数据采集,解决了相关技术中器件功能验证测试时操作复杂,成本较高的问题。

基本信息
专利标题 :
一种通用电路验证测试系统以及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114545194A
申请号 :
CN202111618077.1
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2021-12-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
廖勇郭晗陈龙
申请人 :
航天科工防御技术研究试验中心
申请人地址 :
北京市海淀区永定路50号
代理机构 :
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 :
朱智勇
优先权 :
CN202111618077.1
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211227
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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