通用验证方法学环境搭建方法、芯片验证方法及验证系统

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摘要

提供一种通用验证方法学UVM环境的搭建方法、芯片验证方法和验证系统。UVM环境包括第一级UVM环境和第二级UVM环境，第一级UVM环境的层级低于第二级UVM环境的层级，第一级UVM环境包含第一UVM容器，第一UVM容器中封装的UVM组件用于对第一待测设计DUT进行功能验证，第二级UVM环境包括至少一个第一DUT，该方法包括：将第一UVM容器封装在第一检测器中，第一检测器的接口与第一待测设计的接口相同，第一检测器的接口与UVM组件的虚拟接口相互连接；将第一检测器与第二级UVM环境中的第一DUT绑定，使得第一检测器的接口与第一DUT的接口自动连接，有利于简化第一DUT与第一级UVM环境的绑定过程。

基本信息

专利标题：

通用验证方法学环境搭建方法、芯片验证方法及验证系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114218880A

申请号：

CN202210164286.1

公开（公告）日：

2022-03-22

申请日：

2022-02-23

授权号：

CN114218880B

授权日：

2022-05-03

发明人：

刘子闻张菲娟朱红范君健杨庆娜

申请人：

飞腾信息技术有限公司

申请人地址：

天津市滨海新区海洋高新技术开发区信安创业广场5号楼

代理机构：

北京布瑞知识产权代理有限公司

代理人：

张欣

优先权：

CN202210164286.1

主分类号：

G06F30/33

IPC分类号：

G06F30/33