芯片原型验证方法、装置、系统及存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请实施例公开了一种芯片原型验证方法、装置、系统及存储介质。该方法包括：将验证指令发送到预先适配到原型验证平台中的DDR控制器中，利用所述DDR控制器根据所述验证指令生成控制指令并发送给预先适配到原型验证平台中的数字DFI‑PHY模组；利用所述数字DFI‑PHY模组将所述控制指令由DFI协议转换为符合DDR协议的目标控制指令；将所述目标控制指令发送给所述原型验证平台外接的DDR颗粒；获取所述DDR颗粒执行所述目标控制指令后反馈的结果信息，并基于所述结果信息对所述待验证芯片进行验证。基于此，可以尽可能还原待验证芯片的设计，同时无需外置PHY芯片，避免了运行速度不匹配，性能不均衡，高成本定制外置PHY芯片，IO引脚大量占用的问题。
基本信息
专利标题 ：
芯片原型验证方法、装置、系统及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114528789A
申请号 ：
CN202111551959.0
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2021-12-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
荣超群张云伟
申请人 ：
上海金卓科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区龙东大道3000号5幢802A室
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
马迪
优先权 ：
CN202111551959.0
主分类号 ：
G06F30/33
IPC分类号 ：
G06F30/33 G06F30/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/33
设计验证，例如功能仿真或模型检查
法律状态
2022-06-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/33
申请日 : 20211217
申请日 : 20211217
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
