本发明提供了一种芯片验证方法、系统及装置，所述方法包括采用随机激励对待验芯片进行功能测试；在覆盖率达到预设程度后，收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。本发明在芯片验证过程中，采用随机激励与定向激励相结合的方式进行芯片功能的验证测试，可以达到加速验证收敛，加快验证进度的目的，从而提高验证效率。采用代码生成器生成标准验证平台，再根据待验设计相关参数，生成完整验证平台，在项目测试和项目迭代过程中，能够大量减少验证工程师的工作量。同时帮助验证新人快速理解UVM平台验证机理，把主要精力放在验证工作中，进一步提高验证效率。