一种芯片验证方法、装置及系统

授权

摘要

本申请提供了一种芯片验证方法、装置及系统，该方法应用于分析设备中，分析设备与测试设备相连，测试设备通过速率转换设备与运行被测芯片的仿真平台相连，被测芯片包括流量管理模块。该方法包括：获取测试设备在采样周期开始时测试设备所统计的第一累计流量；获取所述测试设备在采样周期结束时所述测试设备所统计的第二累计流量；根据所述采样周期和降频比，计算所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期；根据所述第一累计流量、所述第二累计流量和所述实际测试周期，计算所述流量管理模块的流量转发能力；若所述流量转发能力在设定能力范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求。

基本信息

专利标题：

一种芯片验证方法、装置及系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113242156A

申请号：

CN202110481154.7

公开（公告）日：

2021-08-10

申请日：

2021-04-30

授权号：

CN113242156B

授权日：

2022-05-27

发明人：

付博雅

申请人：

新华三半导体技术有限公司

申请人地址：

四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天华二路219号4栋1单元1层1号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202110481154.7

主分类号：

H04L12/26

IPC分类号：

H04L12/26