芯片验证系统、方法及存储介质
实质审查的生效
摘要

本公开提供了一种芯片验证系统、方法及存储介质,该系统包括:测试模块包含的至少一个第一组件,用于产生控制待验模块访问存储器的第一激励信号,将第一激励信号发送给待验模块;具有直接存储器访问DMA功能的待验模块,用于生成第一激励信号对应的访问请求;并将访问请求发送给测试模块包含的第二组件;测试模块包含的至少一个第二组件,用于在接收到访问请求后,将访问请求发送给存储模块;以及接收存储模块根据访问请求进行目标操作后返回的操作信息,并将操作信息发送给验证模块;验证模块,用于根据接收到的操作信息,对待验模块进行读写结果校验,得到读写校验结果。

基本信息
专利标题 :
芯片验证系统、方法及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114444422A
申请号 :
CN202210113110.3
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-01-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
连络侯化成徐宁仪
申请人 :
上海阵量智能科技有限公司
申请人地址 :
上海市徐汇区永嘉路698号518室
代理机构 :
北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
袁忠林
优先权 :
CN202210113110.3
主分类号 :
G06F30/33
IPC分类号 :
G06F30/33  G06F13/28  G06F15/78  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/33
设计验证,例如功能仿真或模型检查
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/33
申请日 : 20220129
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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