一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质
公开
摘要
本申请的实施例提供了一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：基于待测芯片中的待测链表，在参考模型中构建模拟链表；在待测芯片对待测链表执行第一读取操作，得到第一读取结果的情况下，基于参考模型根据第一读取操作，对模拟链表进行读取，得到第二读取结果；基于第一读取结果和第二读取结果，判定待测链表的链表逻辑验证是否通过；在待测链表的链表逻辑验证通过的情况下，基于参考模型对待测芯片中的第一芯片逻辑和第二芯片逻辑进行验证。能够实现对待测芯片中的待测链表的链表逻辑和待测芯片中的芯片逻辑分开验证，从而提升对待测芯片验证的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114611441A
申请号 ：
CN202210265188.7
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
丁兴仪周峰金小飞
申请人 ：
苏州盛科通信股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区星汉街5号B幢4楼13/16单元
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
马泽伟
优先权 ：
CN202210265188.7
主分类号 ：
G06F30/33
IPC分类号 ：
G06F30/33 G06F30/3308
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/33
设计验证，例如功能仿真或模型检查
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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