电路优化、芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质
公开
摘要
本公开提供了一种电路优化、芯片验证方法、装置、电子设备、存储介质及芯片，该电路优化方法包括：获取待优化电路中多个待检测模块之间的连接关系信息，以及待检测模块中每个端口的物理位置信息；在确定多个待检测模块中目标待检测模块上具有相同输入信号的多个目标端口之后，基于连接关系信息，确定与多个目标端口相连的其他待检测模块的其他端口；基于多个目标端口的物理位置信息、和其他端口的物理位置信息，确定多个目标端口与其他端口之间的连线交叉结果；基于连线交叉结果，对待优化电路进行调整，得到目标电路。
基本信息
专利标题 ：
电路优化、芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114626325A
申请号 ：
CN202210344767.0
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-03-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨传龙
申请人 ：
上海阵量智能科技有限公司
申请人地址 ：
上海市徐汇区永嘉路698号518室
代理机构 ：
北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
袁忠林
优先权 ：
CN202210344767.0
主分类号 ：
G06F30/337
IPC分类号 ：
G06F30/337 G06F30/33
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/337
设计优化
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
