一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明实施例公开一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质,涉及电子设计自动化领域,能够有效提高芯片验证效率。所述方法包括:监测对被验证芯片的验证操作的操作进度,所述验证操作包括以下至少一项:验证环境初始化操作、测试用例仿真操作;根据所述操作进度,在所述验证操作开始后至所述验证操作结束前的预设时间点设置检查点,并记录所述检查点对应的电路仿真状态;根据仿真指令,从所述检查点开始,基于所述电路仿真状态重新对所述被验证芯片进行验证操作。本发明适用于芯片验证中。

基本信息
专利标题 :
一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114492266A
申请号 :
CN202111567236.X
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王聪
申请人 :
海光信息技术股份有限公司
申请人地址 :
天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
代理机构 :
北京市广友专利事务所有限责任公司
代理人 :
张仲波
优先权 :
CN202111567236.X
主分类号 :
G06F30/331
IPC分类号 :
G06F30/331  G06F11/36  G06F115/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/331
具有硬件加速功能,例如通过使用现场可编程门阵列或仿真
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/331
申请日 : 20211220
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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