本发明的实施例公开了一种芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质，涉及集成电路技术领域，用以在IP改动后集成到SoC之前对IP进行验收，避免因IP质量不过关而把问题带入SoC。所述芯片IP准入验证方法包括：获取目标IP的待验证版本，其中所述待验证版本是在前一版本的基础上修改得到，所述前一版本为IP级验证通过的版本；搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本；根据所述待验证版本相对所述前一版本的修改清单，完成SoC配置组建；在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC。