芯片验证过程中的故障处理方法、装置和电子设备
实质审查的生效
摘要

本申请提供一种芯片验证过程中的故障处理方法、装置和电子设备,包括:在芯片验证过程中进行故障识别,响应于识别到故障,获取故障的故障信息;确定与故障信息匹配的目标故障调试策略;执行目标故障调试策略,对故障进行故障调试;响应于故障调试结束,从故障的位置点继续进行芯片验证过程。本申请中,实现了对芯片验证过程中的故障调试,避免了对芯片验证对应的源代码的修改以及对修改后的源代码的重新仿真,有效缩短了芯片验证过程中的故障修复时间,进而提高了芯片验证的效率。

基本信息
专利标题 :
芯片验证过程中的故障处理方法、装置和电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114356681A
申请号 :
CN202111484629.4
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
索健王正
申请人 :
北京爱芯科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区中关村大街1号16层1605
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
单冠飞
优先权 :
CN202111484629.4
主分类号 :
G06F11/26
IPC分类号 :
G06F11/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
G06F11/26
功能检验
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/26
申请日 : 20211207
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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