本实用新型公开了一种集成电路功能验证测试座，包括基座，所述基座的一侧通过合页转动连接有密封门，且基座下表面的两侧均固定连接有支座，所述基座的前表面固定连接有操控设备，所述基座上表面的一侧通过合页转动连接有转动板，所述转动板的下表面固定连接有固定座，所述基座的内部固定连接有限位板，且基座内部靠近限位板的上侧嵌入连接有嵌入板，本实用新型涉及集成电路技术领域。该集成电路功能验证测试座通过电磁铁，可以将固定座的定位框进行吸附，从而可以将集成电路压制在放置槽的内部，从而防止在测试时发生移动，同时连接构件内部的导块可以与导电板接触，防止集成电路中的静电过多导致损伤的问题。