一种大跨距分体式结构同轴度的高精度测量方法

实质审查的生效

摘要

本发明涉及一种大跨距分体式结构同轴度的高精度测量方法。实现了大跨距同轴度高精度的要求，有效解决了自动调姿设备因两端旋转轴线不同轴而造成被连接天线阵面破坏的问题，实现天线阵面在自动调姿设备上安全、稳定地生产,从而避免了产品的重大质量问题和经济损失，具有较大的技术应用价值和经济价值。

基本信息

专利标题：

一种大跨距分体式结构同轴度的高精度测量方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114264270A

申请号：

CN202111606605.1

公开（公告）日：

2022-04-01

申请日：

2021-12-26

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

许洪韬吕龙泉王风糜敏李智

申请人：

中国电子科技集团公司第十四研究所

申请人地址：

江苏省南京市雨花台区国睿路8号

代理机构：

北京铸成博信知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

张广宇

优先权：

CN202111606605.1

主分类号：

G01B21/24

IPC分类号：

G01B21/24

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01B

长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量

G01B21/24

••用于检测轴线准直

法律状态

2022-04-19 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01B 21/24
申请日 : 20211226

2022-04-01 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

文件下载

暂无PDF文件可下载