存储器故障区域的识别方法、装置、电子设备及存储介质
公开
摘要
本发明提供一种存储器故障区域的识别方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括：检查系统中当前的存储器配置情况与上次运行时的存储器配置情况相比是否发生变化；如果所述当前的存储器配置情况未发生变化，则获取系统的当前可疑存储器区域列表，所述当前可疑存储器区域列表记载有当前可疑存储器区域的故障地址；根据所述当前可疑存储器区域列表，将对应的存储器区域进行屏蔽处理。本发明通过屏蔽故障内存区域，隔绝系统对故障内存区域的使用，有效提高了系统的可靠性。
基本信息
专利标题 ：
存储器故障区域的识别方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114300030A
申请号 ：
CN202111615647.1
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄炜李鹏钟雨阳李阳蔡庆瑶张攀勇
申请人 ：
成都海光集成电路设计有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区天府大道中段1366号2栋天府软件园E5座11层22-31号
代理机构 ：
北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵永刚
优先权 ：
CN202111615647.1
主分类号 ：
G11C29/00
IPC分类号 ：
G11C29/00 G11C29/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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