密评检测方法、装置和电子设备
公开
摘要
本申请实施例公开了一种密评检测方法、装置和电子设备。其中，该方法包括：获取在预设时间段内多次从目标业务系统中的至少两个采集点所捕获的数据报文；对所述数据报文进行预处理，并确定预处理后的数据报文所负载的应用数据；根据所述应用数据，对所述目标业务系统进行密评检测。本申请实施例提高了密评检测结果的准确度。
基本信息
专利标题 ：
密评检测方法、装置和电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114301802A
申请号 ：
CN202111619440.1
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
孙帆索瑞军高旭丁为厂陈宁
申请人 ：
北京吉大正元信息技术有限公司;长春吉大正元信息技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区知春路56号中航科技大厦4层
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
李礼
优先权 ：
CN202111619440.1
主分类号 ：
H04L43/06
IPC分类号 ：
H04L43/06 H04L43/0823 H04L41/14 H04L9/40
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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