图像校正检验方法、装置、电子设备及存储介质
公开
摘要
本公开提供了一种图像校正检验方法、装置、电子设备及存储介质，包括：获取投影校正图像对应的检测图像；其中，投影校正图像由预设的第一图像投影至成像媒介上并校正后形成；根据检测图像，确定投影校正图像对应的若干目标检测点；根据若干目标检测点，确定投影校正图像对应的畸变参数；根据畸变参数，得到图像校正检验结果。本公开通过投影校正图像对应的检测图像确定若干目标检测点，并根据若干目标检测点确定的畸变参数得到图像校正检验结果，可以自动检测出投影校正图像的畸变参数,并根据畸变参数得到图像校正检验结果，检测省时省力，且检测出的畸变参数精度可控，得到的检验结果精确度高。
基本信息
专利标题 ：
图像校正检验方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114302121A
申请号 ：
CN202111628911.5
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
孙世攀张聪胡震宇
申请人 ：
深圳市火乐科技发展有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区科技园中区科苑路15号科兴科学园B栋4单元10层01号
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
钟勤
优先权 ：
CN202111628911.5
主分类号 ：
H04N9/31
IPC分类号 ：
H04N9/31
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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