散射校正方法、装置、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种散射校正方法、装置、电子设备及存储介质，其方法包括：基于PET数据的能谱信息，获得至少两个数据子集；根据所述至少两个数据子集以及预设的散射估计模型确定初步散射校正数据。本发明根据至少两个数据子集以及预设的散射估计模型即可确定初步散射校正数据，减少了模型估计散射校正所需的迭代过程，提高了初步散射校正数据的获取速度，从而提高了散射校正效率。
基本信息
专利标题 ：
散射校正方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114332273A
申请号 ：
CN202111607762.4
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
何鎏春
申请人 ：
上海联影医疗科技股份有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区城北路2258号
代理机构 ：
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张璐
优先权 ：
CN202111607762.4
主分类号 ：
G06T11/00
IPC分类号 ：
G06T11/00 G06N20/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T11/00
2D图像的生成
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 11/00
申请日 : 20211224
申请日 : 20211224
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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