在此公开了用于生成针对芯片版图的用于验证的关键图像的方法和设备。该方法包括：基于设计规则，生成用于目标图形的配置文件，目标图形由多个元件表示，并且配置文件包括限定多个元件中的不同元件之间的距离和各个元件的属性的参数；基于多个元件各自在所述目标图形中的位置，生成表示多个元件在目标图形中的布置的阵列图；以及基于阵列图和配置文件，生成目标图形的关键图像。根据本公开的实施例，可以根据需要拓宽图像覆盖度，并且能够生成更为接近真实设计的图像使得训练的数据集更为丰富和多样。