一种光路结构、图像光谱仪及光谱特性处理方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种光路结构、图像光谱仪及光谱特性处理方法,光路结构包括入射狭缝、准直聚焦镜、分光光栅以及取光镜头,准直聚焦镜具有弧形凹面,取光镜头位于弧形凹面一侧且正对布置;入射狭缝和分光光栅相对设置于取光镜头的两侧且均倾斜布置;入射狭缝发出的光线倾斜入射至弧形凹面上,弧形凹面将光线转换成准直的平行光,并倾斜入射至分光光栅,分光光栅将平行光色散成多种波长大小的光谱图像,并反射回准直聚焦镜的弧形凹面,弧形凹面将光谱图像成像至取光镜头。本发明采用对等复用光路结构,入射和出射使用同一组大面积聚焦镜,使得最终成的色散光谱的光谱图像线性分布,能形成对等的光谱分辨率,非常有利于后面的面阵传感器的成像。

基本信息
专利标题 :
一种光路结构、图像光谱仪及光谱特性处理方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114427909A
申请号 :
CN202111629549.3
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
项国斐项国平
申请人 :
杭州晶飞科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区西园路8号4幢(综合楼二楼北侧)
代理机构 :
杭州知学知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张雯
优先权 :
CN202111629549.3
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/28
申请日 : 20211228
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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