内存自检装置及方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种内存自检装置及方法,包括控制模块,用于根据输入的启动使能信号生成目标输入信号,并分别生成第一选择控制信号和第二选择控制信号;第一选择模块,用于接收第一选择控制信号和目标输入信号,并输出第一选择输出信号至待测存储模块;第二选择模块,用于接收第二选择控制信号和第一存储输出信号,并对初始信号和第一存储输出信号进行数据选择并产生第二选择输出信号;接收模块,用于接收第一存储输出信号和检测控制信号;其中,接收模块根据检测控制信号对第一存储输出信号进行检测并得到检测结果,控制模块根据检测结果输出目标输出信号。本发明能够对存储器进行有效检查,提高检测效率,且减少了逻辑资源的占用。

基本信息
专利标题 :
内存自检装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114333959A
申请号 :
CN202111629887.7
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
常钦皓张远
申请人 :
上海集成电路研发中心有限公司;上海微电子装备(集团)股份有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区张江高科技园区高斯路497号
代理机构 :
上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄海霞
优先权 :
CN202111629887.7
主分类号 :
G11C29/12
IPC分类号 :
G11C29/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/12
申请日 : 20211228
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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