芯片采样电压的处理方法、装置、电器设备和存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种芯片采样电压的处理方法、装置、电器设备和存储介质,该方法包括:控制所述芯片对外部输入电源的电压进行采样,得到采样电压;获取所述芯片对外部输入电源的电压进行采样得到的采样电压,记为芯片采样电压;对所述芯片采样电压进行软件过滤处理,以过滤掉所述芯片采样电压中的误报采样电压,得到正确采样电压;根据所述正确采样电压,进行所述芯片内部预设的逻辑处理,实现基于所述芯片对外部输入电源的电压进行采样得到的采样电压的逻辑控。该方案,通过芯片采样电压的误采样数值进行滤波处理,保证基于采样得到的电压信号进行逻辑处理时采用的时正确的采样数值,有利于提升基于采样得到的电压信号进行逻辑处理时处理的可靠性。

基本信息
专利标题 :
芯片采样电压的处理方法、装置、电器设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487541A
申请号 :
CN202111631457.9
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
钟国翔周鸿向熊超
申请人 :
珠海格力电器股份有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市前山金鸡西路
代理机构 :
北京煦润律师事务所
代理人 :
梁永芳
优先权 :
CN202111631457.9
主分类号 :
G01R19/00
IPC分类号 :
G01R19/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 19/00
申请日 : 20211228
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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