一种镁基电子探针微束成分分析标准样品及其制备方法
公开
摘要
本发明公开了一种镁基电子探针微束成分分析标准样品及其制备方法，属于电子探针微束分析技术领域。一种镁基电子探针微束成分分析标准样品的制备方法，其特征在于：制备方法主要包括如下步骤：S1、熔融处理：将高纯度的Mg和高纯度的Sb单质粉末进行均匀混合，使用钽管将Mg和Sb混合物密封，接着再将钽管密封在石英玻璃管中，然后将石英玻璃管置于马弗炉中，在850℃进行高温熔融处理；S2、退火处理：对Mg3Sb2进行退火处理，以2℃/小时的速度从850℃降温至650℃，使Mg3Sb2单晶缓慢长大。使用Mg3Sb2单晶作为标准样品，能够有效消除基体效应对镁基热电材料电子探针微区原位成分分析的影响，主要用于对镁基热电材料测试数据进行校准，还可用于对测试过程进行质量控制。
基本信息
专利标题 ：
一种镁基电子探针微束成分分析标准样品及其制备方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295663A
申请号 ：
CN202111631842.3
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
朱继浩李艾燃
申请人 ：
自然资源部第二海洋研究所
申请人地址 ：
浙江省杭州市保俶北路36号
代理机构 ：
浙江专橙律师事务所
代理人 ：
蒋诚吏
优先权 ：
CN202111631842.3
主分类号 ：
G01N23/225
IPC分类号 ：
G01N23/225 G01N23/2202
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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