一种磁场跟踪角度检测装置及方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种磁场跟踪角度检测装置及方法,所述装置包括整体框架、转动地设于整体框架顶部的第一磁性组件,转动地设于整体框架中部的第二磁性组件,第一磁性组件的第一磁块和第二磁性组件的第二磁块相互吸引地悬空设置,第二磁性组件的底端设置有角度检测子组件;本发明通过第一磁性组件与第二磁性组件,使得在进行磁场之间的角度调节测试时,可将螺丝装入上轴上的螺纹孔中,随后经由上轴的转动来让第一磁块带动下轴与下轴上的角度检测子组件一同转动,通过简单的结构来对磁场之间的转动响应进行测试,在方便操作的同时,也能够经由同轴分布的上轴下轴和角度检测子组件保证实验的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种磁场跟踪角度检测装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114322905A
申请号 :
CN202111638968.3
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
范福川陈梓展何牧朱岚斐
申请人 :
盛视科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市福田区华富街道莲花一村社区彩田路7018号新浩壹都A4201-4206(整层)、43整层、45整层
代理机构 :
深圳市正威知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
柳大江
优先权 :
CN202111638968.3
主分类号 :
G01B21/22
IPC分类号 :
G01B21/22  G01R33/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/22
•用于计量角度或锥度;用于检测轴线准直
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/22
申请日 : 20211229
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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