本发明涉及计算机科学领域，具体涉及参数校验方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取校验参数；根据校验参数的类型获取相应的参数校验规则；根据参数校验规则，对校验参数进行前台校验和后端校验，获取校验结果。采用该方法，不仅实现了对校验参数进行前台校验，还对校验参数进行了后台校验，避免了攻击者通过拦截请求篡改参数方式绕过前台参数校验，导致数据不安全。因此，上述方法，提高了参数校验的安全性，且保证了校验参数的安全性。此外，由于参数校验规则既适用于前台校验又适用于后端校验，因此，实现了前台校验和后端校验的一致性，从而可以避免由于前台校验和后端校验的不一致性，带来的参数校验困难的问题。