数据校验方法、装置、存储介质及电子设备
公开
摘要
本公开涉及数据处理领域，具体涉及一种数据校验方法、装置、存储介质及电子设备。该数据校验方法包括：响应于数据校验请求，获取所述数据校验请求对应的待校验设备的目标配置管理数据库数据；识别所述目标配置管理数据库数据中的目标校验属性；从规则数据库中提取与目标校验属性匹配的预设字段对应的校验规则；根据所述校验规则对所述目标校验属性进行校验，以得到所述待校验设备的校验结果。本公开提供的数据校验方法能够提高配置管理数据库CMDB数据的校验效率。
基本信息
专利标题 ：
数据校验方法、装置、存储介质及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114595216A
申请号 ：
CN202210280720.2
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
荆展展周健吕铁峰陈东霞
申请人 ：
京东科技信息技术有限公司
申请人地址 ：
北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号院2号楼6层601
代理机构 ：
北京律智知识产权代理有限公司
代理人 ：
王辉
优先权 ：
CN202210280720.2
主分类号 ：
G06F16/215
IPC分类号 ：
G06F16/215 G06F16/23
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F16/215
•••提高数据质量；数据清理，例如重复数据消除、删除无效条目或更正排版错误
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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